產(chǎn)品分類(lèi)
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葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x對(duì)不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí),可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問(wèn)題等)。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開(kāi)不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件,通過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)閾值,可以更精準(zhǔn)的測(cè)量出葉面積指數(shù)等參數(shù)。
葉面積指數(shù)儀儀器主要技術(shù)參數(shù) 鏡頭角度:150° 分辨率:768×494pix 測(cè)量范圍:天頂角由0°~75°(150°魚(yú)眼鏡頭)可分割成十個(gè)區(qū)域,方位角360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域 PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400nm~700nm 測(cè)量范圍0~2000μmol/㎡?S 分析軟件:植物冠層分析系統(tǒng) 電 源:8.4v可充電鋰電池組
葉面積指數(shù)測(cè)定儀測(cè)試原理與方法 植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律,在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法,該方法是各類(lèi)方法中省力、省時(shí)、快。